PID-Schnelltest kommt auf den Markt

On-Site-Messung: Forscher des Fraunhofer-Centers für Silizium-Photovoltaik (CSP) haben eine Methode entwickelt, Module auch direkt im Feld auf ihre Anfälligkeit für potenzialinduzierte Degradation zu testen.
Der mobile Schnelltest kann sogar die Regenerationsfähigkeit von Modulen ermitteln und prognostizieren. Freiberg Instruments stellt das neue Messgerät nun auf der Intersolar Europe vor.

Issue 02 / 2018

Nach dem PID-Test weist der Teil des Moduls, der der Hochspannungs- belastung ausgesetzt war, starke Degradation auf. Die EL-Aufnahme zeigt das anschaulich. Sie ist aber für die Feststellung des Testergebnis- ses nicht nötig.

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